蔡司Versa X射线CT

   日期:2022-09-19 14:41:10     浏览:20    评论:0    
核心提示:蔡司X射线显微镜Xradia515Versa,凭借其突破性技术和高分辨率探测器,将3DX射线显微镜(XRM)的性能提升至新的高度,为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时,该系统可实现高达500nm空间分辨率。该产品通过使用更高分辨率的光学元件,实现分辨率的改善和突破。与此同时,该产品
蔡司X射线显微镜Xradia515Versa,凭借其突破性技术和高分辨率探测器,将3DX射线显微镜(XRM)的性能提升至新的高度,为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时,该系统可实现高达500nm空间分辨率。该产品通过使用更高分辨率的光学元件,实现分辨率的改善和突破。与此同时,该产品还加入了更多的智能的元素,并且具有更广阔的拓展能力。  
详细介绍  
[产品简介]  
蔡司X射线显微镜Xradia515Versa,凭借其突破性技术和高分辨率探测器,将3DX射线显微镜(XRM)的性能提升至新的高度,为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时,该系统可实现高达500nm空间分辨率。该产品通过使用更高分辨率的光学元件,实现分辨率的改善和突破。与此同时,该产品还加入了更多的智能的元素,并且具有更广阔的拓展能力。  
此外,Xradia515Versa系统还可进行扩展和升级,包括原位接口、4D原位试验平台、迭代重构、自动进样装置、平板探测器等多个拓展模块。结合蔡司Xradia平台的灵活性和稳定性,该产品的多功能、多应用领域特点将为您的研究工作快速的提供分析成果。  
[产品特点]  
三维无损成像  
500nm真实空间分辨率  
*的大工作距离下高分辨率,可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像  
吸收、相位衬度成像模式  
智能防撞系统,让您的设置更简单、更智能  
4D原位成像能力  
可升级、拓展和可靠性  
[应用领域]  
材料科学,如金属、陶瓷、高分子、混凝土等三维无损分析  
生命科学,如微观结构三维成像  
地球科学,如地质、油气、矿产、古生物等三维成像  
电子和半导体行业,如形貌测量及失效分析  
原位力学、变温试验
本产品信息由卡尔蔡司(上海)管理有限公司整理发布,更多关于蔡司Versa X射线CT的信息请访问: 
https://www.chem17.com/st443848/product_34726113.html 
 
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